兩個(gè)電源串接或者并接出現(xiàn)EMI不良的問(wèn)題，主要還是這種接法電源端口的電容、電感導(dǎo)致相互影響導(dǎo)致測(cè)試的頻率特性發(fā)生變化引起的結(jié)果。
一般來(lái)說(shuō)電源產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中都會(huì)進(jìn)行EMI性能測(cè)試，測(cè)試要求都是在現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)的限值的基礎(chǔ)上在降低6dB，作為設(shè)計(jì)余量。
但是電源廠家在測(cè)試過(guò)程中后端的負(fù)載是純電阻負(fù)載，這樣和實(shí)際負(fù)載是有差異的。
所以金升陽(yáng)電源產(chǎn)品的設(shè)計(jì)余量做的非常足，而且在技術(shù)手冊(cè)應(yīng)用電路中也設(shè)計(jì)了詳細(xì)的外圍應(yīng)用參考電路。